高精細(xì)度解像度測(cè)試卡簡(jiǎn)介
1.高精細(xì)度解像度測(cè)試卡,是按照ITE解像度測(cè)試卡(4:3類(lèi)型)做出的。因此使用方法都是一樣的。但是,可以評(píng)價(jià)出的清晰度設(shè)計(jì)成了200-2000TVL。
2.可以測(cè)試解像度、光帶、標(biāo)記環(huán)、明暗性、陰影、明暗直線(xiàn)性、明暗動(dòng)態(tài)比、瑕疵
高精細(xì)度解像度測(cè)試卡主要部分的透過(guò)率或者反射率如下所示:
(1)大圓內(nèi)的白色部分的透過(guò)率或者反射率是83%以上
(2)大圓外背景的透過(guò)率或者反射率是50%
(3)灰階的透過(guò)率、反射率請(qǐng)參照以下列表